研究生导师李喜德：清华大学

来源:51考研网更新时间:2024-11-21 22:37:00 发布时间： 651 天前浏览:846

姓　　名李喜德性　　别男出生年月所在院校清华大学所在院系航天航空学院职称教授招生专业固体力学研究领域微/纳米力学，先进力学实验科学，智能材料与结构的力学，航空航天结构与材料，光学与

姓　　名	李喜德	性　　别	男	出生年月
所在院校	清华大学	所在院系	航天航空学院
职称	教授	招生专业	固体力学
研究领域	微/纳米力学，先进力学实验科学，智能材料与结构的力学，航空航天结构与材料，光学与激光计量

联系方式	E-mail	lixide@tsinghua.edu.cn	电话	010-*******	邮编	100084
联系方式	地址	北京清华大学逸夫科技楼3403

个人简介

　　个人简历：　　李喜德，男。1986年获得西北大学物理系激光物理专业学士学位。1989，1992年分别获得西安交通大学工程力学系固体力学专业硕士学位和机械工程系机械制造专业博士学位。1993－95年在中国科学技术大学力学和机械工程系固体力学方向作博士后研究。1995-98年在中国科学技术大学力学和机械工程系任副教授。1999年4月加入清华大学工程力学系，分别任副教授、教授至今。曾作为访问学者和访问教授，先后在瑞典Lule? 技术大学机械工程系，香港大学机械工程系工作。现为中国力学学会实验力学专业委员会委员，实验力学杂志编委。　　研究领域：　　主要研究领域为微纳米结构与薄膜力学性能分析与检测；激光与光学检测理论、方法和技术；结构与材料的无损检测与评估；数字图像处理与分析；传感器与检测设备；生物力学测试与生物图像处理。　　教学工作：　　主讲：固体力学实验技术I（本科生），固体力学实验技术II（本科生），实验应力分析（研究生），高等实验固体力学（博士生）。

获得奖项

　　先后获得了包括国防预研二等奖、国家基金委优秀结题等多项学术奖励和荣誉。　　先后获得了包括国防预研二等奖、国家基金委优秀结题等多项学术奖励和荣誉。

著作及论文

　　1. Microoptical metrology in China, Optics and Lasers in Engineering, 43(8)，833-904，2005. Edited by Xide Li et al. Elsevier LTd.　　2. Xide Li, Yan Yang, Cheng Wei. Exprimental investigation of polycrystalline material deformation based on a grain scale. Chin. Phys. Lett. 22(10): 2553-2556 (2005)　　3. Xide Li, Cheng Wei, Yan Yang. Full field and microregion deformation measurement of thin films using electronic speckle pattern interferometry and array microindentation marker method, Optics and Lasers in Engineering, 43(8): 869-884 (2005).　　4. Xide Li, Cheng Wei. Real-time and Full-field Deflection Measurement of Thin Films Electroplated on the Single Crystal Silicon Wafers. Key Engineering Materials, Vol.306-308: 1289-1294 (2005).　　5. Xide Li, Ye Gu, A new positioning and loading system for the study of the mechanical behavior of small and micro components, SPIE, 5852, 264-269 (2005)　　6. Xide Li, Chen Wei, Optical full-field technique for measuring deformation on micromechnaical components, SPIE, 5852, 321-327 (2005).　　1. Microoptical metrology in China, Optics and Lasers in Engineering, 43(8)，833-904，2005. Edited by Xide Li et al. Elsevier LTd.　　2. Xide Li, Yan Yang, Cheng Wei. Exprimental investigation of polycrystalline material deformation based on a grain scale. Chin. Phys. Lett. 22(10): 2553-2556 (2005)　　3. Xide Li, Cheng Wei, Yan Yang. Full field and microregion deformation measurement of thin films using electronic speckle pattern interferometry and array microindentation marker method, Optics and Lasers in Engineering, 43(8): 869-884 (2005).　　4. Xide Li, Cheng Wei. Real-time and Full-field Deflection Measurement of Thin Films Electroplated on the Single Crystal Silicon Wafers. Key Engineering Materials, Vol.306-308: 1289-1294 (2005).　　5. Xide Li, Ye Gu, A new positioning and loading system for the study of the mechanical behavior of small and micro components, SPIE, 5852, 264-269 (2005)　　6. Xide Li, Chen Wei, Optical full-field technique for measuring deformation on micromechnaical components, SPIE, 5852, 321-327 (2005).

承担项目

　　科研项目：　　介观实验力学技术研究　　微尺度与多场耦合实验检测技术及应用　　基于晶粒尺度的多晶材料变形分析　　微纳米散斑技术及其在MEMS器件热失效中的应用　　科研项目：　　介观实验力学技术研究　　微尺度与多场耦合实验检测技术及应用　　基于晶粒尺度的多晶材料变形分析　　微纳米散斑技术及其在MEMS器件热失效中的应用

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